دانلود رایگان مقاله ISI : تعیین وضوح بالا از شیب تنش های موضعی محلی در سیستم های فیلم نازک و چند لایه

High resolution determination of local residual stress gradients in single- and multilayer thin film systems

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 103, 15 January 2016, Pages 616-623

R. Treml, D. Kozic, J. Zechner, X. Maeder, B. Sartory, H.-P. Gänser, R. Schöngrundner, J. Michler, R. Brunner, D. Kiener,