کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7880046 1509582 2015 12 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Particular structural defects in Ta2O5 from crystallisation of amorphous thin films in O2-H2O atmosphere
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Particular structural defects in Ta2O5 from crystallisation of amorphous thin films in O2-H2O atmosphere
چکیده انگلیسی
(a,b) HRTEM images of structural defects in mL-Ta2O5 monoclinic structures resulting of a crystallisation of amorphous thin films in O2-H2O atmosphere compared in (c) to simulated images of the 11L-Ta2O5 structure with [001] columns of Ta5+-O2− vacancies or only Ta5+ vacancies; (d) ToF-SIMS depth profiles of H−, 18O−, TaO− and 30Si− through a Ta2O5 thin film on Si substrate.389
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 94, 1 August 2015, Pages 181-192
نویسندگان
, , , , ,