کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7880046 | 1509582 | 2015 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Particular structural defects in Ta2O5 from crystallisation of amorphous thin films in O2-H2O atmosphere
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
(a,b) HRTEM images of structural defects in mL-Ta2O5 monoclinic structures resulting of a crystallisation of amorphous thin films in O2-H2O atmosphere compared in (c) to simulated images of the 11L-Ta2O5 structure with [001] columns of Ta5+-O2â vacancies or only Ta5+ vacancies; (d) ToF-SIMS depth profiles of Hâ, 18Oâ, TaOâ and 30Siâ through a Ta2O5 thin film on Si substrate.389
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 94, 1 August 2015, Pages 181-192
Journal: Acta Materialia - Volume 94, 1 August 2015, Pages 181-192
نویسندگان
Marie Le Gallic, Hervé Roussel, Laetitia Rapenne, Marc Audier, Jean-Paul Barnes,