| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 7880669 | 1509591 | 2015 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 85, 15 February 2015, Pages 24-31
Journal: Acta Materialia - Volume 85, 15 February 2015, Pages 24-31
نویسندگان
M. Stefenelli, R. Daniel, W. Ecker, D. Kiener, J. Todt, A. Zeilinger, C. Mitterer, M. Burghammer, J. Keckes,