کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7938759 | 1513181 | 2018 | 18 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ab-initio study of electronic and optical properties of biaxially deformed single-layer GeS
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
In the present work, using density functional theory (DFT), we investigate the influence of biaxial strain εb on electronic and optical properties of single-layer GeS. Our DFT calculations show that single-layer GeS is a semiconducting material at equilibrium and semiconductor-metal phase transition may occur at large compression biaxial strain. The optical absorption of single-layer GeS is high in the range of the middle ultraviolet lights. Besides, the biaxial has a great impact on the optical spectra of single-layer GeS in the high energy domains. The semiconductor-metal phase transition and the computational results of the absorption of GeS can provide more useful information for applications in nanoelectromechanical and optoelectronic devices.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 120, August 2018, Pages 501-507
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 120, August 2018, Pages 501-507
نویسندگان
Khang D. Pham, Chuong V. Nguyen, Huynh V. Phuc, Tuan V. Vu, Nguyen V. Hieu, Bui D. Hoi, Le C. Nhan, Vo Q. Nha, Nguyen N. Hieu,