کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7939711 | 1513189 | 2017 | 16 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analysis of composition and microstructures of Ge grown on porous silicon using Raman spectroscopy and transmission electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Composition and microstructure of Ge grown on porous silicon (PSi) by Molecular Beam Epitaxy (MBE) at different temperatures are examined using High Resolution Transmission Electron Microscopy (HRTEM) and Raman spectroscopy. Ge grown at 400 °C on PSi buffer produces a planar Ge film with high crystalline quality compared to Ge grown on bulk Si. This result is attributed to the compliant nature of PSi. Increasing growth temperature >600 °C, changes the PSi morphology, increase the Ge/Si intermixing in the pores during Ge growth and lead to obtain a composite SiGe/Si substrate. Ge content in the composite SiGe substrate can controlled via growth temperature. These substrates serve as low cost virtual substrate for high efficiency III-V/Si solar cells.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 112, December 2017, Pages 493-498
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 112, December 2017, Pages 493-498
نویسندگان
Mansour Aouassa, Imen Jadli, Latifa Slimen Hassayoun, Hassen Maaref, Gerard Panczer, Luc Favre, Antoine Ronda, Isabelle Berbezier,