کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8149745 | 1524404 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Low temperature AlN growth by MBE and its application in HEMTs
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Low temperature growth of AlN from 470 °C down to room temperature has been studied by RF-plasma assisted molecular beam epitaxy (PAMBE). Partially amorphous AlN was achieved at growth temperatures below 250 °C. We demonstrate the application of the low temperature (LT-) AlN as an in-situ surface passivation technique for III-nitride based high electron mobility transistors (HEMTs). High 2DEG densities >2Ã1013 cmâ2 and sheet resistance <250 Ω/â¡ at room temperature were first obtained for MBE grown AlN/GaN HEMT structures with thin high temperature AlN barrier, then capped with LT-AlN (<4 nm). Using this novel technique, low DC-RF dispersion with gate lag and drain lag below 2% is demonstrated for an AlN/GaN HEMT.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 425, 1 September 2015, Pages 133-137
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 425, 1 September 2015, Pages 133-137
نویسندگان
Faiza Afroz Faria, Kazuki Nomoto, Zongyang Hu, Sergei Rouvimov, Huili (Grace) Xing, Debdeep Jena,