![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Secondary ion mass spectrometry and photoluminescence study on microstructural characteristics of chemically synthesized ZnO nanowalls
Keywords: 78.67.-n; 78.55.Et; 78.67.ân; 79.20.Rf; 68.49.Sf; ZnO; Nanostructures; Photoluminescence; Secondary ion mass spectrometry;