![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Spectroscopic ellipsometry study of CuCdTeO thin films grown by reactive co-sputtering
Keywords: تلورید کادمیوم; Optical properties; Ellipsometry; Dielectric function; Cadmium telluride;