دانلود مقالات ISI درباره پروفایل عمیق + ترجمه فارسی

DIADDHEM set-up: New IBA facility for studying the helium behavior in nuclear glasses

Keywords: پروفایل عمیق; Helium; Nuclear borosilicate glass; Implantation technique; NRA; Depth profiling; Diffusion;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Evolution of SiO2/Ge/HfO2(Ge) multilayer structure during high temperature annealing

Keywords: پروفایل عمیق; Ge; Segregation; HfO2; XPS; Depth profiling; Raman spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Modification of microstructure of the surface and the bulk in ion-irradiated membrane studied using positron annihilation spectroscopy

Keywords: پروفایل عمیق; Polyethyleneterephthalate; Ion irradiation; Depth profiling; Slow positron beam;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

X-ray fluorescence Kα/Kβ ratios for a layered specimen: Comparison of measurements and Monte Carlo calculations with the MCNPX code

Keywords: پروفایل عمیق; X-ray fluorescence; Monte Carlo; MCNP; Depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Physical properties of hydrogenated Al-doped ZnO thin layer treated by atmospheric plasma with oxygen gas

Keywords: پروفایل عمیق; Conductivity; Depth profiling; Grain boundary; Hydrogen; Optical properties; Surface energy; Sputtering

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Microstructural, compositional and magnetic characterization of electrodeposited and annealed Co-Pt-based thin films

Keywords: پروفایل عمیق; Cobalt; Platinum; Electrochemistry; Depth profiling; Magnetic properties and measurements;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Depth profiling of coated metallic artifacts adopting laser-induced breakdown spectrometry

Keywords: پروفایل عمیق; Laser-induced breakdown spectroscopy; Depth profiling; Coated metallic artifacts

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Photothermal imaging in 3D surface analysis of membrane drug delivery

Keywords: پروفایل عمیق; Photothermal deflection spectroscopy; Photothermal imaging; Depth profiling; Drug penetration; Bovine hoof; Methyl orange; Dithranol

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Growth and characterization of (Pb,La)(Zr,Ti)O3 thin film epilayers on SrTiO3-buffered Si(001)

Keywords: پروفایل عمیق; (Pb,La)(Zr,Ti)O3; Sputter deposition; X-ray diffraction; Electron spectroscopy; Depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

On the temperature dependence of Na migration in thin SiO2 films during ToF-SIMS O2+ depth profiling

Keywords: پروفایل عمیق; Na migration; ToF-SIMS; Depth profiling; Na implantation; O2+ sputtering; Projected range;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Numerical and experimental depth profile analyses of coated and attached layers by laser-induced breakdown spectroscopy

Keywords: پروفایل عمیق; Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS); Laser ablation modeling; Depth profiling; Coating thickness; Depth resolution

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Influence of relative abundance of isotopes on depth resolution for depth profiling of metal coatings by laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry

Keywords: پروفایل عمیق; Metal coatings; Depth profiling; Depth resolution; LA-ICP-MS

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Structure determination of nanocomposites through 3D imaging using laboratory XPS and multivariate analysis

Keywords: پروفایل عمیق; X-ray photoelectron imaging; Multivariate analysis; 3D imaging; Image fusion; Peak shape analysis; Depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Mechanisms of interdiffusion in Pd–Cu thin film diffusion couples

Keywords: پروفایل عمیق; Diffusion; Depth profiling; Phase transitions; Diffraction

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Selective surface modification of syndiotactic polystyrene films: A study by Fourier transform- and confocal-Raman spectroscopy

Keywords: پروفایل عمیق; Sulfonated polystyrene; FT-Raman; Confocal-Raman spectroscopy; Depth profiling; Surface modification

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Molecular dynamics computer simulations of 5 keV C60 bombardment of benzene crystal

Keywords: پروفایل عمیق; Sputtering; SIMS/SNMS; Depth profiling; Cluster projectiles; Organic material; Molecular dynamics computer simulations;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Investigation of an ion-milled Si/Cr multilayer using micro-RBS, ellipsometry and AES depth profiling techniques

Keywords: پروفایل عمیق; 68.65.Ac; 79.20.Rf; 82.80.Pv; 82.80.Yc; 07.60.FsMultilayer; Ion beam milling; Ellipsometry; AES; Depth profiling; RBS; Tomography

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Damage analysis of benzene induced by keV fullerene bombardment

Keywords: پروفایل عمیق; 79.20.Rf; 82.80.Ms; 81.70.Jb; 83.10.Rs; Sputtering; SIMS/SNMS; Depth profiling; Molecular dynamics computer simulations; Cluster projectiles; Organic material;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Influence of ion assisted deposition on interface broadening in Fe/Al multilayers investigated by medium energy ion scattering

Keywords: پروفایل عمیق; Iron; Aluminium; Multilayer; MEIS; Magnetron; Depth profiling; Trilayer;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Quantitative XPS depth profiling of codeine loaded poly(l-lactic acid) films using a coronene ion sputter source

Keywords: پروفایل عمیق; XPS; Quantitative; Depth profiling; Drug eluting polymer; PLA

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Correlation of acoustic and optical emission signals produced at 1064 and 532 nm laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) of glazed wall tiles

Keywords: پروفایل عمیق; LIBS; Acoustic signal; Normalization; Internal standard; Ceramic tile; Depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

First stages of surface steel nitriding: X-ray photoelectron spectroscopy and electrical measurements

Keywords: پروفایل عمیق; Plasma nitriding; Glow-discharge source (GDS); 42CrMo4 steel; X-ray photoelectron spectroscopy; Depth profiling; Electrical measurements;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Sputtering of Langmuir–Blodgett multilayers by keV C60 projectiles as seen by computer simulations

Keywords: پروفایل عمیق; 79.20.Rf; 36.40.−c; 07.77.Gx; 36.20.EgSputtering; Molecular dynamics; C60; Depth profiling; Langmuir−Blodgett overlayers; SIMS

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

PIXE/RBS as a tool to study cementitious materials: Application to the dynamic leaching of concrete

Keywords: پروفایل عمیق; 81.05.Mh; 81.70.−q; 82.80.Yc; 82.30.HkConcrete leaching; PIXE; RBS; Depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Micro-fabrication techniques applied to aluminosilicate glass surfaces: Micro-indentation and wet etching process

Keywords: پروفایل عمیق; Depth profiling; Glass; Etching; Surface structure

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

PL and XPS depth profiling of Si/Al2O3 co-sputtered films and evidence of the formation of silicon nanocrystals

Keywords: پروفایل عمیق; 73.22.−f; 78.67.Bf; 81.15.CdSi nanocrystals; Aluminum oxide; Photoluminescence; X-ray diffraction; X-ray photoelectron spectroscopy; Depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Depth profiling of clear coil coating by confocal Raman microscopy

Keywords: پروفایل عمیق; Confocal Raman microscopy; Coil coating; Depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Depth profiling of coil coating using step-scan photoacoustic FTIR

Keywords: پروفایل عمیق; Coil coating; Step-scan photoacoustic FTIR; Depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Molecular SIMS - A journey from single crystal to biological surface studies

Keywords: پروفایل عمیق; Secondary ion mass spectrometry (SIMS); Chemisorption; Surface structure; Biological surfaces; Depth profiling; 2D and 3D imaging;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Substrate heterostructure effects on interface composition, microstructure development and functional properties of PZT thin films

Keywords: پروفایل عمیق; PZT; XPS; Depth profiling; Interface

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Comparative depth-profiling analysis of nanometer-metal multilayers by ion-probing techniques

Keywords: پروفایل عمیق; Depth profiling; Elemental analysis; GDOES; Glow-discharge optical emission spectroscopy; Ion probing; Multilayer; RBS; Rutherford backscattering spectrometry; Secondary ion mass spectroscopy; SIMS

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films

Keywords: پروفایل عمیق; 68.35 Dv; 68.55a; 79.60.-I; 81.15Cd; 81.15Gh; 81.65Mq; 81.70Jb; 82.80.Pv; Tin dioxide; L-CVD thin films; Ag-doping; XPS surface chemistry; Depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Controlling energy deposition during the C60+ bombardment of silicon: The effect of incident angle geometry

Keywords: پروفایل عمیق; SIMS; C60+; Silicon; Depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Electrodeposition of Cu–In–Ga thin metal films for Cu(In, Ga)Se2 based solar cells

Keywords: پروفایل عمیق; Electrochemistry; Depth profiling; Copper-indium-selenides; Solar cells

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Ion beam induced mixing of co-sputtered Au-Ni films analyzed by Rutherford backscattering spectrometry

Keywords: پروفایل عمیق; Rutherford backscattering; Depth profiling; Au-Ni co-sputtered film; Ion irradiation; 82.80.Yc; 68.55.Ln; 61.72.Ss; 81.70.Jb;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Deuterium inventory in plasma facing materials by means of NRA: A microbeam probe approach

Keywords: پروفایل عمیق; 81.70.Jb; 25.55.−e; 52.55.FaNuclear reaction analysis; Depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

A thin-layer reference material for hydrogen analysis

Keywords: پروفایل عمیق; 06.20.fb; 24.30.Gd; 25.40.−h; 25.40.Ny; 25.70.−z; 68.55.Ln; 81.15.GhHydrogen; Nuclear reaction analysis; Depth profiling; Reference material; Ion beam analysis

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Cluster SIMS using metal cluster complex ions

Keywords: پروفایل عمیق; Cluster; SIMS; Depth profiling; Sputtering; Metal cluster complex; Ir4(CO)12;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

A study of the 42CrMo4 steel surface by quantitative XPS electron spectroscopy

Keywords: پروفایل عمیق; Steel; Iron oxide; X-ray photoelectron spectroscopy; Argon ion sputtering; Depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

The influence of the pigment volume concentration on the curing of alkyd coatings: A 1D MRI depth profiling study

Keywords: پروفایل عمیق; Alkyd; Curing; Pigments; PVC; MRI; Depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

In situ confocal-Raman measurement of water and methanol concentration profiles in Nafion® membrane under cross-transport conditions

Keywords: پروفایل عمیق; Nafion®; Water–methanol cross-transport; Depth profiling; Concentration gradient; Microfluidic device; In situ Raman confocal microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Low-energy heavy-ion TOF-ERDA setup for quantitative depth profiling of thin films

Keywords: پروفایل عمیق; 34.50.–s; 82.80.Rt; 61.72.Ss; 68.55.NqElastic recoil detection; Time-of-flight; Thin film analysis; Depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Hydrogen and oxygen in-depth evolution during electrochemical hydrogenation/dehydrogenation of Y–Pd thin films analyzed by Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy

Keywords: پروفایل عمیق; Yttrium hydrides; Switchable mirrors; Palladium hydrides; Electrochemical hydrogenation; Optical switching; Radio-frequency glow discharge optical emission spectroscopy; Depth profiling; Smart optical windows

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Ion sputtering rates of W-, Ti- and Cr-carbides studied at different Ar+ ion incidence angles

Keywords: پروفایل عمیق; 81.65 Cf; 68.55.Nq; Ion sputtering rates; Sputtering yields; Carbides; W; Ti; Cr; C; Depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Depth profiling of Mg by 2010 keV resonance of 24Mg(p,p′γ)24Mg nuclear reaction

Keywords: پروفایل عمیق; 82.80.YcMagnesium; Nuclear reaction analysis; Resonance; Depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

ATR-FTIR study of lipopolysaccharides at mineral surfaces

Keywords: پروفایل عمیق; LPS; ATR-FTIR spectroscopy; Depth profiling; Endotoxins;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

The impact of molecular emission in compositional depth profiling using Glow Discharge-Optical Emission Spectroscopy

Keywords: پروفایل عمیق; Glow discharge; Molecular emission; Depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Concentration profiles in paint layers studied by differential PIXE

Keywords: پروفایل عمیق; 82.80.Ej; 83.80.Hj; 81.05.BxDifferential PIXE; Depth profiling; Paint layers; Pigments

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 13 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Depth profiling and stoichiometry of constituents in platinum electroless contacts on CdTe(111) under different pH values

Keywords: پروفایل عمیق; Cadmium telluride; Platinum; Electroless deposition process; Rutherford back-scattering spectroscopy; Depth profiling; pH; Crystalline direction;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Modeling of glancing incidence X-ray for depth profiling of thin layers

Keywords: پروفایل عمیق; Glancing incidence diffraction; XRD; Depth profiling; Thin film; Simulation; Gold

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه