![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
XPS and TEM study of W-DLC/DLC double-layered film
Keywords: میکروسکوپ الکترونی انتقال; DLC; Tungsten; Double layer; X-ray photoelectron spectroscopy; Transmission electron microscope