دانلود مقالات ISI درباره طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس + ترجمه فارسی

Selective reduction and extraction of Gd@C82 and Gd2@C80 from soot and the chemical reaction of their anions

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Fullerene; Chemical treatment; Infrared spectroscopy; X-ray photoelectron spectroscopy; Carbon yield;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Electronic structure of CexSny compounds

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; X-ray photoelectron spectroscopy; Ce3Sn; Ce2Sn5; Ce5Sn4; CeSn3; Ce3Sn7; Ce5Sn3; Ce11Sn10;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Characterization of crystalline Pb0.92La0.08Zr0.4Ti0.6O3 thin films grown by off-axis radio frequency magnetron sputtering

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Atomic force microscopy; Ferroelectric properties; Sputtering; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

The degradation of poly[2-methoxy-5-(2-ethylhexoxy)-1,4-phenylene vinylene] thin films studied by capacitance-voltage analysis and attenuated total reflection infrared spectroscopy

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Infrared spectroscopy; X-ray photoelectron spectroscopy; Oxygen; Polymers;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

In situ characterization of stoichiometry for the buried SiOx layers in SiOx/SiO2 superlattices and the effect on the photoluminescence property

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 82.80.Pv; 81.07.Bc; 78.67.Bf; 78.55.Mb; Multilayer; Nanostructure; Silicon oxide; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

The epitaxial ZrO2 on silicon as alternative gate dielectric: film growth, characterization and electronic structure calculations

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Epitaxial ZrO2; Pulsed laser deposition; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Growth and characterization of copper nanoclusters embedded in SiC matrix

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Nanostructures; Sputtering; Transmission electron microscopy; X-ray photoelectron spectroscopy; 79.60.J; 81.15.C; 61.16.B; 79.60;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Colorimetric properties of TiN coating implanted by aluminum

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Thin films; Vapor deposition; X-ray diffraction; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Growth of β-FeSi2 layers on Si (111) by solid phase and reactive deposition epitaxies

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 81.15.− z; 81.15.Np; 71.20.Nr; 79.60.− i; 76.80.+y; Silicides; X-ray photoelectron spectroscopy; Solid phase epitaxy; Mössbauer spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Thermal annealing of InN films grown by metal-organic chemical vapor deposition

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 72.80.Ey; 87.64.Bx; 33.60.Fy; 68.37.Hk; Indium nitride; X-ray diffraction; Scanning electron microscope; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Investigation on sol-gel synthesized Ag-doped TiO2 cermet thin films

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 73.61.J; 78.40.F; 78.66; 61.10.N; 61.16.B; Titanium oxide; Sol-gel process; X-ray photoelectron spectroscopy; Optical properties;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Characterization and thermal stability of iodinated amorphous conducting carbon films

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Carbon; Electrical properties and measurements; Thermal analysis; X-ray photoelectron spectroscopy; 81.05.Uw; 73.50.−h; 81.70.Pg; 79.60.−i;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Surface modification of polymeric materials by plasma immersion ion implantation

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 52.77.Dq; 68.47.Mn; 79.60.Fr; 61.82.Pv; 81.05.Lg; X-ray photoelectron spectroscopy; Nylon-6; Functional groups; Wettability; Ion implantation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Compositionally graded layer produced by low-energy ionization deposition technique

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 81.15.Jj; 52.77.Dq; Graded layer; Ionization deposition; X-ray photoelectron spectroscopy; Surface modification; Titanium alloy; Raman spectroscopy; Hydrogenated amorphous carbon (a-C:H);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Effect of Si implantation on the microstructure of silicon nanocrystals and surrounding SiO2 layer

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 61.46.+w; 68.37.Lp; 68.55.Ln; Si nanocrystals; Transmission electron microscopy; Dark-field imaging; X-ray photoelectron spectroscopy; Monte Carlo simulation; Luminescence;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Irradiation-induced silicide formation in the ion beam-mixed Au/Si(1 0 0) system at room temperature

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Ion-beam mixing; Gold silicide; Rutherford backscattering spectrometry; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Effect of calcination and reduction treatment on the photocatalytic activity of CO oxidation on Pt/TiO2

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Pt/TiO2; X-ray photoelectron spectroscopy; CO photocatalytic activity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Effect of heat treatment of activated carbon supports on the loading and activity of Pt catalyst

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Activated carbon; Catalyst support; Heat treatment; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Analysis of arsenic and some other elements in coal fly ash by X-ray photoelectron spectroscopy

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Coal fly ash; X-ray photoelectron spectroscopy; Surface analysis; Arsenic; Leaching behavior;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Wirelike growth of self-assembled hafnium silicides: oxide mediated epitaxy

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 81.16.Dn; 68.55.Nq; 68.37.Ef; 79.60.−I; Hafnium; Scanning tunneling microscopy; X-ray photoelectron spectroscopy; Interfaces;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

X-ray photoelectron spectroscopy of metal free porphyrazine, phthalocyanine and naphthalocyanine: density functional calculations

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Porphyrazine; Phthalocyanine; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Activation energies for the oxidation of iron by oxygen gas and water vapour

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; X-ray photoelectron spectroscopy; Iron; Oxidation; Tunnelling; Polycrystalline surfaces; Activation energy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Synthesis of nanowires, nanorods and nanoparticles of ZnO through modulating the ratio of water to methanol by using a mild and simple solution method

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; ZnO nanostructures; Chemical synthesis; Atomic force microscopy; X-ray photoelectron spectroscopy; Chemical potential;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Field emission properties of N2 and Ar plasma-treated multi-wall carbon nanotubes

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Carbon nanotubes; Plasma treatment; X-ray photoelectron spectroscopy; Scanning electron microscopy; Raman spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

sp3/sp2 characterization of carbon materials from first-principles calculations: X-ray photoelectron versus high energy electron energy-loss spectroscopy techniques

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Carbon films; Electron energy-loss spectroscopy; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Oxidation of formic acid on platinum electrodeposited on polished and oxidized glassy carbon

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Glassy carbon; Electrochemical treatment; Catalytic activity; Scanning tunneling microscopy; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Effect of oxygen on magnetic properties of Co-Pt-Cr-SiO2 thin films for perpendicular recording media

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 75.70.Ak; 75.50.Ss; Co-Pt-Cr-SiO2; Perpendicular recording media; Magnetic property; Oxygen effect; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

X-ray photoelectron spectroscopic analysis of HfO2/Hf/SiO2/Si structure

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 77.55.+f; 79.60.Jv; 81.15.Cd; 81.70.Jb; Hafnium dioxide; X-ray photoelectron spectroscopy; Sputtering deposition; Depth profiling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Photoemission study of chemisorption and Fermi-level pinning at K/GaAs(1 0 0) interface with synchrotron radiation

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; X-ray photoelectron spectroscopy; Fermi-level pinning; Schottky barrier;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Immobilization of extracellular matrix on polymeric materials by carbon-negative-ion implantation

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 41.75.Cn; 81.65; 78.40.Me; 79.60; Negative ion implantation; Surface modification; Polymer; X-ray photoelectron spectroscopy; Extracellular matrix; Contact angle;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Chemical bath deposited zinc sulfide buffer layers for copper indium gallium sulfur-selenide solar cells and device analysis

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Solar cells; X-ray photoelectron spectroscopy; ZnS; Quantum efficiency; 84.60J; 85.30; 71.20.M; 81.05.E;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Ternary phase analysis of interfacial silicates grown in HfOx/Si and Hf/SiO2/Si systems

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Hafnium; Scanning tunneling microscopy; X-ray photoelectron spectroscopy; Interfaces; 68.60.Dv; 68.55.Nq; 68.37.Ef; 79.60.-i;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Optical characterization of MoO3 thin films produced by continuous wave CO2 laser-assisted evaporation

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 78.66.-W; 78.55.Hx; Deposition process; Optical properties; Laser irradiation; X-ray photoelectron spectroscopy; Molybdenum oxide;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Low temperature chemical vapor deposition of Co thin films from Co2(CO)8

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 81.15.Gh; 81.05.Bx; Cobalt thin film; Dicobalt octacarbonyl; Chemical vapor deposition; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Surface electronic properties and site-specific laser desorption processes of highly structured nanoporous MgO thin films

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Desorption induced by photon stimulation; Magnesium oxide; Surface defects; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Surface properties of chemically modified activated carbons for adsorption rate of Cr (VI)

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Activated carbon; X-ray photoelectron spectroscopy; Surface properties; Adsorption properties;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Fluorinated amorphous diamond-like carbon films deposited by plasma-enhanced chemical vapor deposition

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Fluorinated amorphous diamond-like carbon films; X-ray photoelectron spectroscopy; Plasma-enhanced chemical vapor deposition;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Tribological behavior of sputtered boron carbide coatings and the influence of processing gas

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Boron carbide coating; DC magnetron sputtering; Processing gas; Friction and wear; X-ray photoelectron spectroscopy; Auger electron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Template removal from polycrystalline silicalite-1 self-supporting layer

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Microporous materials; Surface properties; X-ray photoelectron spectroscopy; Atomic force microscopy; Silicalite-1;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

XPS, TDS and static SIMS studies of binary Pd/Al system properties: correlation between Pd-Al bimetallic interaction and CO adsorption

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 82.80.Pv; 82.80.Ms; 82.65.Jv; 81.05.Bx; X-ray photoelectron spectroscopy; Thermal desorption spectroscopy; Secondary ion mass spectroscopy; Catalysis; Aluminum; Palladium; Alloys; Carbon monoxide;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Effects of poly(ethylene glycol) on electrical conductivity of poly(3,4-ethylenedioxythiophene)-poly(styrenesulfonic acid) film

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 68.35.-p; 78.30.Jw; 72.80.Le; PEDOT-PSS; Electrical conductivity; X-ray photoelectron spectroscopy; Atomic force microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Effect of processing conditions on unsupported Ni-based catalysts for graphitic-nanofibre formation

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Graphitic carbon; Surface treatment; BET surface area; Transmission electron microscopy; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Characterization and adsorption properties of polymer-based microporous carbons with different surface chemistry

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Activated carbon; X-ray photoelectron spectroscopy; Functional groups; Water adsorption; Formaldehyde adsorption;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Photoconductivity in the ordered vacancy compound CuIn5Se8

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; 73.50.Pz; 73.50.Gr; Transient photoconductivity; Spectral photoconductivity; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Chemisorption of alkyl thiols and S-alkyl thiosulfates on Pt(1 1 1) and polycrystalline platinum surfaces

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; X-ray photoelectron spectroscopy; Platinum; Self-assembly; Chemisorption;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Coadsorption of CO and C6H6 on Co(0 0 0 1)

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Aromatics; Carbon monoxide; Catalysis; Cobalt; Low energy electron diffraction (LEED); Low index single crystal surfaces; Thermal desorption spectroscopy; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Interface reactions in Ta/Ni81Fe19/Ta structures and their influence on magnetic properties

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Magnetic multilayers; Magnetically dead layer; Interface reaction; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Evolution of Fermi level position and Schottky barrier height at Ni/MgO(0 0 1) interface

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Nickel; Magnesium oxides; Metal-oxide interfaces; Schottky barrier; Interfaces states; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Morphological and chemical evolution on InP(1 0 0) surface irradiated with femtosecond laser

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Indium phosphide; X-ray photoelectron spectroscopy; Oxidation; Ripples;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Chemically homogeneous, silylated surface for effective DNA binding and hybridization

Keywords: طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکس; Surface chemical reaction; Oligonucleotide immobilization; Atomic force microscopy; Quartz crystal microbalance; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه