کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9812119 | 1518107 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of crystalline Pb0.92La0.08Zr0.4Ti0.6O3 thin films grown by off-axis radio frequency magnetron sputtering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
In this study, we examine the growth conditions for Pb0.92La0.08Zr0.4Ti0.6O3 thin films with a linear electro-optical response. Films grown on SrTiO3(100) substrate show good crystalline quality and surface smoothness, if deposited within a narrow range of substrate temperatures around 530 °C. Such films had a (002) rocking curve full width at half maximum less than 0.2°, and a surface roughness less than 0.4 nm. X-ray photoelectron spectroscopy analysis confirmed the absence of surface impurity phases and revealed a single oxidation state for Pb2+, Zr4+, and Ti4+cations. Good crystalline quality and a smooth film surface are required for the use of these materials in optical device applications.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 492, Issues 1â2, 1 December 2005, Pages 71-74
Journal: Thin Solid Films - Volume 492, Issues 1â2, 1 December 2005, Pages 71-74
نویسندگان
A.K. Sarin Kumar, Ã. Dahl, S.V. Pettersen, J.K. Grepstad, T. Tybell,