کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10669654 | 1008781 | 2014 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In and out of incidence plane Mueller matrix scattering ellipsometry of rough mc-Si
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
For the as-cut surface with an estimated correlation length of 4 μm and root mean square roughness of 550 nm, using an illumination wavelength of 532 nm, the degree of polarization is observed to be larger than 0.86, even far away from the incidence plane.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 571, Part 3, 28 November 2014, Pages 399-404
Journal: Thin Solid Films - Volume 571, Part 3, 28 November 2014, Pages 399-404
نویسندگان
Jérôme Maria, Lars Martin Sandvik Aas, Morten Kildemo,