کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10669669 | 1008781 | 2014 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Compositional dependence of the optical conductivity of Ni1 â xPtx alloys (0 < x < 0.25) determined by spectroscopic ellipsometry
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We measured the ellipsometric angles as a function of photon energy from 0.76 to 6.6 eV of 10 nm thick Ni1 â xPtx alloy (0 < x < 0.25) films deposited on thick thermal oxides. Using basis spline functions and Drude-Lorentz oscillator fitting, we determined the dielectric functions and optical conductivities of our alloy films. We describe techniques to increase the accuracy of our measurements and data analysis. We find absorption peaks near 1.6 and 4.8 eV due to interband optical transitions. There is a significant broadening of these peaks with increasing Pt content. Annealing the metals at 500 °C for 30 s increases the optical conductivity.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 571, Part 3, 28 November 2014, Pages 484-489
Journal: Thin Solid Films - Volume 571, Part 3, 28 November 2014, Pages 484-489
نویسندگان
Lina S. Abdallah, Stefan Zollner, Christian Lavoie, Ahmet Ozcan, Mark Raymond,