کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10669700 | 1008781 | 2014 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ellipsometry of monolayers of metallic nanoparticles taking into account depolarization
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Ellipsometry of monolayers of metallic nanoparticles taking into account depolarization Ellipsometry of monolayers of metallic nanoparticles taking into account depolarization](/preview/png/10669700.png)
چکیده انگلیسی
Spectroscopic ellipsometry of disordered monolayers of gold nanoparticles on oxidized silicon prepared by thermal flash-annealing of thin sputtered gold films was performed taking into account depolarization and accompanied by scanning electron microscopy. It allows to compare optical properties of samples with their structure and to demonstrate that depolarization registered in far-field zone carries the information about near-field interparticle interactions.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 571, Part 3, 28 November 2014, Pages 625-630
Journal: Thin Solid Films - Volume 571, Part 3, 28 November 2014, Pages 625-630
نویسندگان
E.G. Bortchagovsky, T.O. Mishakova, K. Hingerl,