کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10669714 | 1008781 | 2014 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Transmission ellipsometry of anisotropic substrates and thin films at oblique incidence. Handling multiple reflections
ترجمه فارسی عنوان
انتقال بیلیس متری زیربناهای آنیزوتروپیک و فیلمهای نازک در بروز مورب. مدیریت بازتاب های متعدد
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Transmission ellipsometry is a technique that is very sensitive to the anisotropy of a material. At large angles of incidence it is also very sensitive to the change of the refractive index at the interfaces. This work applies Berreman's 4Â ÃÂ 4 algebraic descriptions of light transmission in layered bianisotropic media. When the optical response of thick layers is modeled, the calculated spectra show narrow oscillations due to the interference of the multiple reflections that are typically not observed experimentally. We present an incoherent treatment of the multiple reflections that avoids this problem. A method that allows a straightforward simplification of the 4Â ÃÂ 4 to 2Â ÃÂ 2 matrices is also presented for systems where multiple reflections can be disregarded.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 571, Part 3, 28 November 2014, Pages 701-705
Journal: Thin Solid Films - Volume 571, Part 3, 28 November 2014, Pages 701-705
نویسندگان
Oriol Arteaga, John Freudenthal, Shane Nichols, Adolf Canillas, Bart Kahr,