کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10670112 | 1008846 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Thickness dependent electronic structure of ultra-thin tetrahedral amorphous carbon (ta-C) films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
Raman spectroscopy - طیف سنجی رامانX-ray photoelectron spectroscopy - طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکسThin films - فیلم های نازکFiltered cathodic vacuum arc - قوس خلاء کاتدی تصفیه شدهNear edge X-ray absorption fine structure spectroscopy - نزدیک لبه جذب اشعه ماوراء بنفش طیف سنجی ساختار خوبTetrahedral amorphous carbon - کربن آمورف Tetrahedral
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Thickness dependent electronic structure of ultra-thin tetrahedral amorphous carbon (ta-C) films Thickness dependent electronic structure of ultra-thin tetrahedral amorphous carbon (ta-C) films](/preview/png/10670112.png)
چکیده انگلیسی
⺠Filtered Cathodic Vacuum Arc deposited ultra-thin ta-C films (1-10 nm thick). ⺠CK-edge NEXAFS provides evidence of surface defects (CâH bonds). ⺠Concentration of CâH surface defects decreases with increasing thickness. ⺠Ï*CC behavior suggestive of rise and fall of sp2 bonding configuration. ⺠Critical thickness required for stability of sp3 distorted sp2 structures.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 7, 31 January 2012, Pages 2909-2915
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 7, 31 January 2012, Pages 2909-2915
نویسندگان
Navneet Soin, Susanta Sinha Roy, Sekhar Chandra Ray, Patrick Lemoine, Md. Anisur Rahman, Paul D. Maguire, Sushanta K. Mitra, James A. McLaughlin,