کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10670412 | 1008866 | 2011 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Near infra-red Mueller matrix imaging system and application to retardance imaging of strain
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We report on the design and performance of a near infra-red Mueller matrix imaging ellipsometer, and apply the instrument to retardance imaging of strain in near infra-red transparent solids. Particularly, we show that the instrument can be used to investigate complex strain domains in multi-crystalline silicon wafers.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 519, Issue 9, 28 February 2011, Pages 2737-2741
Journal: Thin Solid Films - Volume 519, Issue 9, 28 February 2011, Pages 2737-2741
نویسندگان
Lars Martin Sandvik Aas, PÃ¥l Gunnar Ellingsen, Morten Kildemo,