کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1664549 1008760 2015 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Origins of light scattering from thin film coatings
ترجمه فارسی عنوان
ریشه های پراکندگی نور از پوشش های نازک فیلم
کلمات کلیدی
ترجمه چکیده
خصوصیات نور پراکندگی پوشش های چند لایه به طور قابل توجهی پیچیده تر از سطوح تک است. با این حال، روش های تجربی جدید و تکنیک های مدل سازی پراکندگی چند لایه را می توان مورد بررسی و تحلیل قرار داد. در این مقاله عوامل مؤثر بر پراکندگی فیلترهای تداخل سرکوب کننده مادون قرمز مورد بحث قرار گرفته است. این کار با ترکیب زاویه های اندازه گیری پراکندگی نور حل شده در طول موج های مختلف با مترولوژی زبری و مدل های نظری ساده انجام شده است. تأثیر منابع مختلف پراکندگی، به ویژه سوبسترا و زبری پوشش، اثرات تداخل و نقصهای محلی، به صورت کمی مورد بحث قرار گرفته است. اثبات می شود که اثر نقایص گره گشایی ناچیز است در حالی که اثر اثرات تداخل ندارد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
The light scattering properties of multilayer coatings is substantially more complex than that of single surfaces. Yet new experimental methods and modeling techniques enable multilayer scattering to be investigated and analyzed in detail. In this article, the dominating factors influencing the scattering of near infrared suppressing interference filters are discussed. This is done by combining angle resolved light scattering measurements at different wavelengths with roughness metrology and simplified theoretical models. The impact of different sources of scattering, in particular substrate and coating roughness, interference effects, and local defects, are discussed in a quantitative manner. It will be demonstrated that the impact of nodular defects is negligible while the impact of interference effects is not.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 592, Part B, 1 October 2015, Pages 248-255
نویسندگان
, , , , , , ,