کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1666696 1518074 2013 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Grazing incidence X-ray diffraction for the study of polycrystalline layers
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Grazing incidence X-ray diffraction for the study of polycrystalline layers
چکیده انگلیسی
► A way to probe the surface of materials. ► Refinement of diffraction patterns collected near the surface. ► Evolution of thin solid film versus the depth.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 530, 1 March 2013, Pages 9-13
نویسندگان
, , , , ,