کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1666696 | 1518074 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Grazing incidence X-ray diffraction for the study of polycrystalline layers
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Grazing incidence X-ray diffraction for the study of polycrystalline layers Grazing incidence X-ray diffraction for the study of polycrystalline layers](/preview/png/1666696.png)
چکیده انگلیسی
⺠A way to probe the surface of materials. ⺠Refinement of diffraction patterns collected near the surface. ⺠Evolution of thin solid film versus the depth.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 530, 1 March 2013, Pages 9-13
Journal: Thin Solid Films - Volume 530, 1 March 2013, Pages 9-13
نویسندگان
David Simeone, Gianguido Baldinozzi, Dominique Gosset, Sophie Le Caer, Jean-François Bérar,