| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 1666696 | 1518074 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												Grazing incidence X-ray diffraction for the study of polycrystalline layers
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												کلمات کلیدی
												
											موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													مهندسی مواد
													فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												چکیده انگلیسی
												⺠A way to probe the surface of materials. ⺠Refinement of diffraction patterns collected near the surface. ⺠Evolution of thin solid film versus the depth.
											ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 530, 1 March 2013, Pages 9-13
											Journal: Thin Solid Films - Volume 530, 1 March 2013, Pages 9-13
نویسندگان
												David Simeone, Gianguido Baldinozzi, Dominique Gosset, Sophie Le Caer, Jean-François Bérar,