کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1667093 | 1008841 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of Si-ion implantation on crystallization behavior of Ge2Sb2Te5 film
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Effects of Si-ion implantation on crystallization behavior of Ge2Sb2Te5 film Effects of Si-ion implantation on crystallization behavior of Ge2Sb2Te5 film](/preview/png/1667093.png)
چکیده انگلیسی
⺠Material performance of Ge2Sb2Te5 (GST) is modified by Si-ion implantation. ⺠Crystallization temperature of Si-ion implanted GST films is much enhanced. ⺠Thermal stability of GST is much improved at high dose Si-ion implantation. ⺠FCC transition to HCP of GST is inhibited at high dose Si-ion implantation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 21, 31 August 2012, Pages 6636-6641
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 21, 31 August 2012, Pages 6636-6641
نویسندگان
Po-Hsiang Lee, Po-Chin Chang, Der-Sheng Chao, Jenq-Horng Liang, Shih-Chin Chang, Ming-Jinn Tsai, Tsung-Shune Chin,