کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1667327 | 1008849 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of stacked sol–gel films: Comparison of results derived from scanning electron microscopy, UV–vis spectroscopy and ellipsometric porosimetry
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
TiO2/MgF2 bi-layers were prepared by sol–gel processing in both stacking sequences. Films were characterized by scanning electron microscopy, UV–vis spectrometry, and ellipsometric porosimetry. The results obtained by the different methods are compared. The validity and limitations of the respective techniques are discussed with special focus on film porosity and the interface between the TiO2 and MgF2 material.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 6, 1 January 2012, Pages 1880–1884
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 6, 1 January 2012, Pages 1880–1884
نویسندگان
Andreas Bittner, Angelika Schmitt, Rainer Jahn, Peer Löbmann,