کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1667541 | 1008852 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analysis of buried heterointerfacial hydrogen in highly lattice-mismatched epitaxy on silicon
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We realized the epitaxial growth of a Sr layer on Si(111) with an atomically abrupt heterointerface – in spite of its large lattice mismatch (12%) with Si – by introducing a monoatomic layer of H on Si. In order to identify the buried H, we carried out a combination analysis involving neutron reflectometry and resonant nuclear reaction of 1H(15N,αγ)12C analysis. We found different neutron reflectivity profiles resulting from a contrast variation between the H and D atoms at the buried heterointerface. Furthermore, the depth γ-ray intensity profiles revealed that the H at the heterointerface acts as an effective buffer layer that enables it to manage the highly mismatched epitaxy on Si.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 8, 1 February 2012, Pages 3300–3303
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 8, 1 February 2012, Pages 3300–3303
نویسندگان
T. Yamazaki, H. Asaoka, T. Taguchi, S. Yamamoto, D. Yamazaki, R. Maruyama, M. Takeda, S. Shamoto,