کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1668314 | 1008865 | 2011 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analysing UV/Vis/NIR spectra with the double-layer model - Sputtered SnS thin-films II: Gas law and plasma parameter dependencies
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A non-contact, optical conductivity measurement possibility by use of ultra-violet/visible/near infra-red spectroscopy has been provided. Contact-free, optically measured conductivities were compared with those, measured electrically with a conventional four-tip measurement system.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 519, Issue 19, 29 July 2011, Pages 6568-6578
Journal: Thin Solid Films - Volume 519, Issue 19, 29 July 2011, Pages 6568-6578
نویسندگان
A. Stadler, H. Dittrich,