کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1669035 | 1008878 | 2011 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
XPS study of CZTSSe monograin powders
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The surface and bulk composition of Cu2ZnSn(SexS1-x)4 (CZTSSe) monograin powders were investigated by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The concentration depth profiling of CZTSSe monograin powders was obtained by Ar+ ion etching.According to the XPS spectra of CZTSSe monograin powder, the binding energies of Zn 2p3/2, Cu 2p3/2, Sn 3d5/2, S 2p3/2 and Se 3d5/2 core levels after surface cleaning are located at 1021.6 eV, 932.4 eV, 486.1 eV, 161.5 eV, 53.9 eV, respectively. From XPS depth profile analysis, Cu deficiency and the excess of chalcogenides on the powder crystals surface were observed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 519, Issue 21, 31 August 2011, Pages 7407–7411
Journal: Thin Solid Films - Volume 519, Issue 21, 31 August 2011, Pages 7407–7411
نویسندگان
M. Danilson, M. Altosaar, M. Kauk, A. Katerski, J. Krustok, J. Raudoja,