کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1670668 | 1008902 | 2010 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Synthesis of epitaxial BaZrO3 thin films by chemical solution deposition
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
This work reports on the low temperature preparation and characterization of BaZrO3 (BZO) epitaxial thin films by chemical solution deposition (CSD). The X-ray θ–2θ scan and φ-scan measurements have demonstrated that the BZO films exhibit cube-on-cube epitaxy on (100) MgO substrates, with the full width at half maximum (FWHM) for the ω-scan and φ-scan of 0.35° and 0.46°, respectively. The SEM and AFM analyses revealed that the morphology of the films is strongly correlated with annealing temperature. The root mean square roughness for the film annealed at 600 °C is 3.63 nm, while for the film grown at 1000 °C is 5.25 nm.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 518, Issue 16, 1 June 2010, Pages 4714–4717
Journal: Thin Solid Films - Volume 518, Issue 16, 1 June 2010, Pages 4714–4717
نویسندگان
R.B. Mos, M.S. Gabor, M. Nasui, T. Petrisor Jr., C. Badea, A Rufoloni, L. Ciontea, T. Petrisor,