کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1671314 | 1008914 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Activation characterization of non-evaporable Ti-Zr-V getter films by synchrotron radiation photoemission spectroscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The effect of activation temperature on the degree of reduction of dense and porous TiZrV films was investigated by synchrotron radiation photoemission spectroscopy. The dense and porous TiZrV films have similar composition and thickness, and their specific surface areas are 2 m2/g and 13 m2/g, respectively. Comparing the previous results of the porous TiZrV film [Chien-Cheng Li, Jow-Lay Huang, Ran-Jin Lin, Chia-Hao Chen, Ding-Fwu Lii, Thin Solid Films 515, (2006) 1121.], the degree of activation of the porous TiZrV film is lower than that of the dense TiZrV film. To complete the activation treatment of the dense and porous TiZrV films, the activation temperature must be higher than 350 °C or the activation time must be longer than 30 min.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 517, Issue 20, 31 August 2009, Pages 5876-5880
Journal: Thin Solid Films - Volume 517, Issue 20, 31 August 2009, Pages 5876-5880
نویسندگان
Chien-Cheng Li, Jow-Lay Huang, Ran-Jin Lin, Ding-Fwu Lii, Chia-Hao Chen,