کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1671563 | 1008920 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Preparation and investigation of VOx thin films of n- and p-types
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Optical, electrical and thermal properties of the deposited films were studied. The topography of the films was studied using AFM microscope. P-N structures were created using VOx films on silicon and glass substrates. Electrical measurements had shown a non-linear behaviour of the samples.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 24, 15 October 2007, Pages 8446-8449
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 24, 15 October 2007, Pages 8446-8449
نویسندگان
Alexander Axelevitch, Boris Gorenstein, Gady Golan,