کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1674228 | 1008960 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Growth and characterization of group-III impurity-doped semiconducting BaSi2 films grown by molecular beam epitaxy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Ga- or In-doped BaSi2 films were grown on Si(111) by molecular beam epitaxy (MBE). The Ga-doped BaSi2 showed n-type conductivity. The electron concentration and resistivity of the Ga-doped BaSi2 depended on the Ga temperature; however, the electron concentration and resistivity could not be controlled properly. In contrast, the In-doped BaSi2 showed p-type conductivity and its hole concentration was controlled in the range between 1016 and 1017 cm− 3 at RT.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 22, 15 August 2007, Pages 8242–8245
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 22, 15 August 2007, Pages 8242–8245
نویسندگان
M. Kobayashi, K. Morita, T. Suemasu,