کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1675106 | 1008973 | 2006 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Epitaxial growth of CeO2/yttria-stabilized ZrO2 double layer films on biaxially textured Ni tape via electrostatic spray assisted vapour deposition
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Epitaxial growth of CeO2 and yttria-stabilized ZrO2 (YSZ) double layer films has been successfully carried out on biaxially textured nickel substrates at a temperature between 400 and 600 °C using electrostatic spray assisted vapour deposition method. The structure of the double layer was characterized by X-ray diffraction and scanning electron microscopy. The results show that highly oriented CeO2/YSZ double buffer films were formed epitaxially onto biaxially textured Ni substrates. The orientation relationships between YSZ layer and Ni substrate are 001YSZ//001Ni and 110YSZ//100Ni, while the orientation relationships between CeO2 and YSZ are 001CeO2//001YSZ and 100CeO2//100YSZ.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 4, 5 December 2006, Pages 1825-1829
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 4, 5 December 2006, Pages 1825-1829
نویسندگان
Ming Wei, Kwang-Leong Choy,