کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1676193 | 1518099 | 2006 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Deposition of photosensitive hydrogenated amorphous silicon–germanium films with a tantalum hot wire
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We study the optical, electrical and structural properties of a-SiGe:H thin films deposited by hot-wire chemical vapor deposition (HWCVD). The best films are deposited with a Ta filament heated to 1750 °C and the substrate temperature held at 200 °C. For the same precursor gas ratio of GeH4 to SiH4, a lower filament temperature produces films with higher Ge incorporation than with a higher filament temperature. For Tauc band gaps between 1.22 and 1.30 eV, the photoconductivity and photosensitivity are significantly higher than for plasma-enhanced CVD a-SiGe:H films exhibiting the same band gap. The filament lifetime is much longer for a Ta filament than for a W filament at these operating temperatures.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 501, Issues 1–2, 20 April 2006, Pages 198–201
Journal: Thin Solid Films - Volume 501, Issues 1–2, 20 April 2006, Pages 198–201
نویسندگان
Yueqin Xu, A.H. Mahan, Lynn M. Gedvilas, Robert C. Reedy, Howard M. Branz,