کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1796341 | 1023742 | 2006 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of lattice properties of Ga1âx Mnx N epilayers grown by plasma-assisted molecular beam epitaxy by means of optical techniques
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
71.55.Eq78.30.Fs71.70.Ch75.50.Pp - 75.50.PPA1. Characterization - A1 تعیین مشخصاتA1. Impurities - A1 ناخالصی هاA1. X-ray diffraction - A1 پراش اشعه ایکسA1. Raman scattering - A1 پراکندگی رامانA3. Molecular Beam Epitaxy - A3 اپیتاکسی پرتوهای مولکولیB1. Perovskites - B1 PerovskitesB2. Semiconducting III–V materials - B2 مواد نیمه هادی III-V
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Raman spectroscopy has been used to study the lattice properties of plasma-assisted molecular beam epitaxy grown GaN:Mn layers (0-18% Mn). Raman spectra corresponding to the intrinsic GaN layers demonstrate three Raman active excitations at 144, 570 and 729.2Â cmâ1, identified as E2L, E2H and A1(LO) respectively. The Mn-doped GaN layers exhibit additional excitations attributed to defect-activated Raman scattering and Mnm-N (m =1-4) related frequency modes in the vicinity of E2H mode. Subsequently, detailed X-ray diffraction measurements have revealed the coexistence of cubic phases in the predominantly hexagonal GaN lattice.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 296, Issue 2, November 2006, Pages 174-178
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 296, Issue 2, November 2006, Pages 174-178
نویسندگان
M. Asghar, I. Hussain, E. Bustarret, J. Cibert, S. Kuroda, S. Marcet, H. Mariette,