کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5450130 1512859 2017 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comparative study on predicting Young's modulus of graphene sheets using nano-scale continuum mechanics approach
ترجمه فارسی عنوان
بررسی مقایسه ای پیش بینی مدول یانگ ورق های گرافن با استفاده از روش مکانیک مداوم نانو مقیاس
ترجمه چکیده
در این تحقیق، مدل سازی مداوم نانو مقیاس برای پیش بینی مدول یانگ ورق گرافن مورد استفاده قرار گرفته است. نانو ساختار شبکه ی یک ورقه گرافن با یک ساختار قاب فضای گسسته ای که شبیه سازی پیوندهای کربن-کربن با عناصر پرتو یا بهار است جایگزین می شود. یک مطالعه تطبیقی ​​برای بررسی تأثیر عناصر مشغول به کار بر روی مدل یانگ محاسبه شده از ورق های گرافن در جهت های افقی و عمودی انجام شده است. تجزیه و تحلیل دقیق نیز به منظور بررسی اثر اندازه صفحات گرافن در مدول یانگ و نسبت های مربوط به آن انجام شده است که اثرات ناپدیدشده ناخوشایند در نتیجه نتایج استخراج می شوند. در مرحله نهایی، ورق های گرافن نقره ای رنج می برند که از نقایص خالی در اثر تجزیه و تحلیل تصادفی با توجه به تعداد نقص ها و مکان های آنها به عنوان پارامترهای تصادفی مورد بررسی قرار می گیرند. سطح کاهش در مدل یانگ ورق های گرافن نقره ای در مقایسه با موارد غیر نقص در تجزیه و تحلیل و گزارش شده است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
چکیده انگلیسی
In this research, nano-scale continuum modeling is employed to predict Young's modulus of graphene sheet. The lattice nano-structure of a graphene sheet is replaced with a discrete space-frame structure simulating carbon-carbon bonds with either beam or spring elements. A comparative study is carried out to check the influence of employed elements on estimated Young's moduli of graphene sheets in both horizontal and vertical directions. A detailed analysis is also conducted to investigate the influence of graphene sheet sizes on its Young's modulus and corresponding aspect ratios that unwelcomed end effects disappear on the results are extracted. At the final stage, defected graphene sheets suffering from vacancy defects are investigated through a stochastic analysis taking into account both number of defects and their locations as random parameters. The reduction level in the Young's moduli of defected graphene sheets compared with non-defected ones is analyzed and reported.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures - Volume 90, June 2017, Pages 42-48
نویسندگان
, ,