کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466530 | 1398905 | 2016 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atomically resolved interface structure between epitaxial TiN film and MgO substrate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this study, we used a high quality epitaxial TiN thin film grown on MgO (001) substrate for the investigation of the TiN/MgO interface structure which was characterized with scanning transmission electron microscopy (STEM) at atomic resolution. Analyses of high angle annular dark-field and annular bright-field STEM image contrast with X-ray energy dispersive spectroscopy maps show that a 2Â ~Â 4Â nm diffuse interlayer of mixed compositions exists coherently between TiN and MgO with the same structure and across the interface the ionic bonding sequences are maintained without any interruption.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 618, Part A, 1 November 2016, Pages 8-12
Journal: Thin Solid Films - Volume 618, Part A, 1 November 2016, Pages 8-12
نویسندگان
Lin-Lung Wei, Tzu-Chun Yen, Hien Do, Li Chang,