کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6944594 | 1450383 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Focused ion beam milling of exfoliated graphene for prototyping of electronic devices
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠FIB prototyping of graphene electronic devices without FIB imaging. ⺠FIB milled trenches isolate current to channel region. ⺠Better than 250 nm alignment accuracy. ⺠Ohmic contact between graphene and FIB deposited electrodes.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 98, October 2012, Pages 313-316
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 98, October 2012, Pages 313-316
نویسندگان
Marek E. Schmidt, Zaharah Johari, Razali Ismail, Hiroshi Mizuta, Harold M.H. Chong,