کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7877297 | 1509532 | 2018 | 33 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered TiN-SiOx thin film
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 144, 1 February 2018, Pages 862-873
Journal: Acta Materialia - Volume 144, 1 February 2018, Pages 862-873
نویسندگان
J. Keckes, R. Daniel, J. Todt, J. Zalesak, B. Sartory, S. Braun, J. Gluch, M. Rosenthal, M. Burghammer, C. Mitterer, S. Niese, A. Kubec,