کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8034426 | 1518023 | 2015 | 16 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In-situ XRD study of alloyed Cu2ZnSnSe4-CuInSe2 thin films for solar cells
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We investigate the growth of Cu2ZnSnSe4-CuInSe2 (CZTISe) thin films using a 2-stage (Cu-rich/Cu-free) co-evaporation process under simultaneous application of in-situ angle dispersive X-ray diffraction (XRD). In-situ XRD allows monitoring the phase formation during preparation. A variation of the content of indium in CZTISe leads to a change in the lattice constant. Single phase CZTISe is formed in a wide range, while at high In contents a phase separation is detected. Because of different thermal expansion coefficients, the X-ray diffraction peaks of ZnSe and CZTISe can be distinguished at elevated substrate temperatures. The formation of ZnSe appears to be inhibited even for low indium content. In-situ XRD shows no detectable sign for the formation of ZnSe. First solar cells of CZTISe have been prepared and show comparable performance to CZTSe.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 582, 1 May 2015, Pages 272-275
Journal: Thin Solid Films - Volume 582, 1 May 2015, Pages 272-275
نویسندگان
Stefan Hartnauer, Leonard A. Wägele, Enrico Jarzembowski, Roland Scheer,