کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8036892 | 1518068 | 2013 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Combined effect of the large ionic radius and low electronegativity of lanthanum additive on solution-processed zinc-tin-oxide thin-film transistors
ترجمه فارسی عنوان
اثر ترکیبی شعاع یونی بزرگ و الکترونگاتیویته پایین افزودنی لانتانیم روی ترانزیستورهای نازک روی تکه ای از روی حلال
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
دستگاه های نمایش ترانزیستور فیلم نازک اکسید، لانتانیم-روی-قلع-اکسید، فرآیند حل،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Solution-processed lanthanum-zinc-tin-oxide thin films were fabricated with varying La content. A peak shift to small angles was observed in X-ray diffractometer spectra due to the expansion of the zinc-tin-oxide lattice originated from the larger ionic radius of La3Â +, while oxygen vacancies first increased, and then decreased with increasing La molar ratio. These results indicate that La, which has both low electronegativity and a large ionic radius, plays the role of either a generator or a suppressor of oxygen vacancies. Therefore, when choosing an additive to control the electrical properties of an oxide semiconductor, the ionic radius of the added atom should be carefully considered along with its electronegativity.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 536, 1 June 2013, Pages 291-294
Journal: Thin Solid Films - Volume 536, 1 June 2013, Pages 291-294
نویسندگان
Chul Ho Kim, You Seung Rim, Dong Lim Kim, Hyun Jae Kim,