کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037188 | 1518073 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Microstructural, optical and electrical properties of annealed ZnO:Al thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Effects of annealing atmosphere and temperature on opto-electronic properties. ⺠Effects of annealing atmosphere and temperature on structural properties. ⺠Transport mechanisms with temperature-dependent carrier concentration and conductivity. ⺠Structural properties studied by Raman spectroscopy and X-ray diffraction technique. ⺠Improvement of Hall mobility, resistivity and optical properties.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 531, 15 March 2013, Pages 424-429
Journal: Thin Solid Films - Volume 531, 15 March 2013, Pages 424-429
نویسندگان
C. Charpentier, P. Prod'homme, P. Roca i Cabarrocas,