کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9812227 | 1518109 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Infrared study of free carriers in X/ZnO (XÂ =Â semiconductor, metal) nanocomposites
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Infrared study of free carriers in X/ZnO (XÂ =Â semiconductor, metal) nanocomposites Infrared study of free carriers in X/ZnO (XÂ =Â semiconductor, metal) nanocomposites](/preview/png/9812227.png)
چکیده انگلیسی
The infrared (IR) reflectance spectroscopy technique was used for the qualitative determination of free carrier density in metal and semiconductor nanocluster embedded ZnO films. The effects of incorporation of metal and semiconductor nanoclusters on the evolution of the free carrier absorption band in the nanocomposites were studied. Our results reveal that the concentration of free carriers in the composite films depends strongly on the nature of incorporated clusters in the matrix and the annealing temperature. It is demonstrated that just by monitoring the position of a single IR reflectance band, the extent of oxidation of any incorporated species in ZnO can be monitored qualitatively.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 490, Issue 2, 1 November 2005, Pages 137-141
Journal: Thin Solid Films - Volume 490, Issue 2, 1 November 2005, Pages 137-141
نویسندگان
J. GarcÃa-Serrano, G. Casarrubias-Segura, A.G. Galindo, X. Mathew, U. Pal,