کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9812293 | 1518110 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ab initio study of the stability of X (X=Cr, Nb, Ag) ultra-thin layers on Cu(001)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Full potential Linearized Plane Waves method within the framework of the generalized gradient approximation is applied to study X/Cu(001) (X=Cr, Nb, Ag) layered structures. Self-consistent total energy calculations are carried out to determine the energetics and growth modes of different X/Cu(001) systems: interdiffusion, monolayer, bilayer, trilayer, and island formations. Ideal works of separation and the resulting interfacial energies are estimated for the Cr/Cu, Nb/Cu and Ag/Cu layered structures. The obtained results, which are compared with previously published experimental and theoretical data, show that Ag and Nb elements have quite different behavior than Cr.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 489, Issues 1â2, 1 October 2005, Pages 344-349
Journal: Thin Solid Films - Volume 489, Issues 1â2, 1 October 2005, Pages 344-349
نویسندگان
A. Kellou, T. Grosdidier, A. Tadjer, C. Coddet, H. Aourag,