کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9812504 | 1518114 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of tellurium-based films for NO2 detection
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Sensing characteristics of tellurium-based thin films for NO2 monitoring was studied systematically. The influence of contact materials, thermal treatment, temperature and thickness of the samples on the electrical conductivity and sensitivity to NO2 with respect to scanning electron microscopy analyses is given. The possibility is shown to optimize the properties of the films for the development of a simple and stable NO2 sensor device with rapid response/recovery time and low operating temperature. The sensing mechanism is discussed for the direct interaction of gaseous species with lone-pair electrons of chalcogen atoms.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 485, Issues 1â2, 1 August 2005, Pages 252-256
Journal: Thin Solid Films - Volume 485, Issues 1â2, 1 August 2005, Pages 252-256
نویسندگان
D. Tsiulyanu, A. Tsiulyanu, H.-D. Liess, I. Eisele,