کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9812580 | 1518115 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
RETRACTED: Effect of substrate temperature on structural, electrical and optical properties of Al-N co-doped ZnO thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Reason: The secondary ion mass spectrometry (SIMS) profile published in this paper had already been included in articles published in Mater. Lett., 58 (2004) 3741-3744 and in J. Crystal Growth, 273 (2005) 451-457. In the former, the SIMS data describe a sample prepared under different conditions. The author did not notify either the Thin Solid Films Editors or the coauthors of this fact. The author apologizes sincerely to the readers, referees, and Editors for violating the guidelines of ethical publication. Also the author apologizes to the coauthors for mishandling of the manuscript.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 484, Issues 1â2, 22 July 2005, Pages 420-425
Journal: Thin Solid Films - Volume 484, Issues 1â2, 22 July 2005, Pages 420-425
نویسندگان
Guodong Yuan, Liping Zhu, Zhizhen Ye, Qing Qian, Binghui Zhao, Ruixing Fan,