آشنایی با موضوع

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) میکروسکوپ نیروی اتمی همچون میکروسکوپ تونلی روبشی از زیرمجموعه‌های میکروسکوپ پروبی روبشی به حساب می‌آید. این میکروسکوپ از نوکی بسیار تیز برای پروب و نقشه‌برداری از پستی بلندی‌های سطح نمونه استفاده می‌کند. میکروسکوپ نیروی اتمی نیروهای میدان نزدیک بین اتم‌های نوک پروب و اتم‌های سطح نمونه را به جای جریان تونلی، ردیابی می‌کند. از آنجایی که میکروسکوپ نیروی اتمی محدود به سطوح هادی الکتریکی نیست، گسترده‌تر از میکروسکوپ تونلی روبشی مورد استفاده قرار می‌گیرد. مُدهای عملکردی نوک کانتی‌لیور مُد تماسی(Contact Mode) در مد تماسی، تیپ در ناحیه نیروهای دافعه واندروالسی بین اتم های نوک تیپ با سطح و بدون ایجاد ارتعاش روی کانتیلور عمل می کند. دستگاه با یک مکانیسم فید بک انحراف کانتیلور را اندازه گرفته و در یک نقطه ثابت نگاه می دارد. زمانی که تیپ در حال روبش سطح می باشد، تصویربرداری با ثبت ولتاژ اعمال شده به پیزوالکتریک متحرک انجام می شود. مد تماسی برای بررسی سطوح سخت با تیپ های نازک و فوق تیز و سخت مناسب می باشد. مُد غیرتماسی(Non-Contact Mode) در مد غیر تماسی میکروسکوپ نیروی اتمی، تیپ در ناحیه نیروهای جاذبه واندروالسی با سطح و با ایجاد ارتعاش روی کانتیلور عمل می کند. در این حالت کانتیلور در نزدیکی یک فرکانس رزونانس طبیعی، نوسان می کند. سپس نمونه نزدیک می شود تا دامنه کانتیلور به مقدار تعیین شده کاهش یابد. بدین صورت که اثر متقابل تیپ- نمونه باعث کاهش شدید دامنه می شود، وقتی که این فاصله به ابعاد نانومتری رسید، تیپ سطح نمونه را روبش می کند. در این حالت مکانیسم فیدبک دامنه نوسان را اندازه گیری کرده و ثابت نگاه می دارد. این مد بیشتر برای محیط هوا و مایع مناسب می باشد. از آن جایی که نیروی کمتری بر نمونه وارد می شود در نتیجه این روش تخریب کمتری را برای نمونه های نرم و تیپ دربر دارد. مد تماس متناوب یا ضربه‌ای(Tapping Mode) این حالت نیز مانند حالت بدون تماس است با این تفاوت که در حالت تماس متناوب نوک کانتی‌لیور مرتعش به آرامی با نمونه برخورد می‌کند و دامنه نوسان خیلی بزرگتر از حالت بدون تماس است. در این روش، تصویرسازی با استفاده از دامنهٔ ارتعاش کانتی‌لیور انجام می‌شود. شکل شماره ۳ - منحنی نیرو-فاصله شکل ۳ یک منحنی شماتیک نیرو-فاصله را برای میکروسکوپ نیروی اتمی نشان می‌دهد. در فاصلهٔ دور از نمونه، کانتی‌لیور(تیر یکسر گیردار) توسط نیروی بین‌اتمی جذب نمی‌شود و در حالت تعادل آزاد خود است. اما هنگامی که کانتی‌لیور به سطح نمونه نزدیک می‌شود، نیروهای جاذبه کانتی‌لیور را به سمت نمونه جذب می‌کنند. هنگامی که نوک با سطح در تماس است، نیروهای دافعه غالب بوده و کانتی‌لبور را دور می‌کنند. خطوط پررنگ دامنهٔ کار معمول م. ن. اها را در حالت‌های تماسی و بدون تماس نشان می‌دهند. پیکان افقی دراز، دامنهٔ معمول تماس متناوب را نشان می‌دهد. مزایا و معایب مزایا سرعت بالا سادگی تهیهٔ نمونه اطلاعات دقیق ارتفاع قابلیت کار در هوا، خلا و مایعات (بر خلاف میکروسکوپ‌های الکترونی) قابلیت مطالعهٔ سیستم‌های زیستی زنده محدودیت‌ها بازهٔ مطالعهٔ عمودی محدود بازهٔ بزرگنمایی محدود وابستگی اطلاعات بدست آمده به نوع نوک میکروسکوپ امکان آسیب دیدن نوک میکروسکوپ یا نمونه

در این صفحه تعداد 600 مقاله تخصصی درباره میکروسکوپ نیروی اتمی که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI ترجمه شده میکروسکوپ نیروی اتمی
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Scanning electron microscopy (SEM); Atomic force microscopy (AFM); X-ray diffraction (XRD); Cement; Nanosilica;
مقالات ISI میکروسکوپ نیروی اتمی (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; H2TPP film; Anion intercalation; Blisters; HOPG oxidation; Atomic force microscopy (AFM); Interface chemistry;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Fractal dimension; Surface roughness; Weierstrass-Mandelbrot function; Atomic force microscopy (AFM); Image segmentation;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Breast cancer cells; Raman spectroscopy; Atomic force microscopy (AFM); Optical microscopy; Principal component analysis (PCA);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Sodium chloride (PubChem CID: 5234); Ethyl alcohol (PubChem CID: 702); Acetone (PubChem CID: 180); Trans-1,2-Diaminocyclohexane-N,N,N′,N′-tetraacetic acid (PubChem CID: 2723845); Carbazole (PubChem CID: 6854); Sulfuric acid (PubChem CID: 1118); Potass
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; LM; light microscopy; ROS; reactive oxygen species; TBARS; thiobarbituric acid reactive substances; TEM; transmission electron microscopy; SEM; scanning electron microscopy; EDX; energy dispersive X-ray analyser; AFM; atomic force microscopy; Fluoride tox
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Streptococcus mutans; Atomic force microscopy (AFM); Adhesion; Force-distance interaction; Biofilm; Extracellular polymeric substance (EPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Cake; Pea protein; Xanthan gum; Emulsifier; Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR); Atomic force microscopy (AFM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Atomic force microscopy (AFM); Catalytic chemical etching; Catalytically active platinum-coated probe; Single-crystal silicon; Nanofabrication;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Pyrrole electropolymerization; Self-assembled monolayer (SAM); Cyclic voltammetry (CV); Electrochemical impedance spectroscopy (EIS); Atomic Force Microscopy (AFM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Atomic force microscopy (AFM); Micro electromechanical systems (MEMS); Micro electromechanical resonators; High frequency AFM probe; Block copolymers;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Cyclic slip plastic irreversibility; Low-cycle fatigue; Manson-Coffin fatigue crack initiation law; Ni-base superalloy; Atomic force microscopy (AFM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Vegetal fibers; Polymer-matrix composites (PMCs); Friction/wear; Mechanical properties; Atomic force microscopy (AFM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Calibrating measure; Monolayer steps; Layered crystals; Scanning probe microscopy (SPM); Atomic force microscopy (AFM); Scanning tunneling microscopy (STM); Bi2Se3 and ZnWO4;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Aluminum alloys; Hydrogen absorption; Hydrogen desorption; Atomic Force Microscopy (AFM); Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (SKPFM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Cell motility; Polyelectrolyte multilayer (PEM); Human skin fibroblasts; Strong polyelectrolyte; Poly(allylamine hydrochloride); Layer-by-Layer (LbL); Atomic force microscopy (AFM); Contact angle;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Self-assembled monolayer (SAM); Thiols; Quartz Crystal Microbalance with Dissipation (QCM-D); Atomic force microscopy (AFM); X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Polymer-matrix composites (PMCs); Fibre/matrix bond; Impact behaviour; Atomic force microscopy (AFM); Inverse gas chromatography (iGC);