دانلود مقالات ISI درباره اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد + ترجمه فارسی

Surface modification by laser etching using a surface-adsorbed layer

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Laser etching; Surface-adsorbed layer; Laser ablation; Fused silica; Absorption; Surface modification; Vapor; Rutherford backscattering spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Quantification of low levels of fluorine content in thin films

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Fluorine content; Rutherford Backscattering Spectrometry; Particle induced gamma-ray emission; Fluorine-doped tin oxides; Fluorinated silica films; Fluorinated carbon films

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Structural and optical studies of Au doped titanium oxide films

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Ion Implantation; TiO2 films; Au nanoparticles; Rutherford backscattering spectrometry; Optical absorption

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Passivation of cobalt nanocluster assembled thin films with hydrogen

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Clusters; Hydrogen; Passivation; Cobalt; Cobalt oxide; Magnetic force microscopy; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

A remotely controlled, semi-automatic target system for Rutherford backscattering spectrometry and elastic recoil detection analyses of polymeric membrane samples

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Rutherford backscattering spectrometry; Elastic recoil detection; Membranes; Thin film composite; Reverse osmosis; Nanofiltration

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

High temperature annealing of Xe implanted ZrC0.95O0.05 investigated by RBS, TEM and PAS-DBS

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Zirconium carbide; Fission product; Xenon; Thermal behaviour; GFR; Rutherford backscattering spectrometry; Transmission electron microscopy; Positron annihilation spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Fractal pattern formation in thermal grooving at grain boundaries in Ag films on Si(111) surfaces

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Thermal grooving; Fractal structure; Scanning electron microscopy; Rutherford backscattering spectrometry; Photoemission electron microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Growth of stoichiometric indium sulfide films by thermal evaporation: Influence of vacuum annealing on structural and physical properties

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Indium sulfide; Physical vapor deposition; Rutherford backscattering spectrometry; Vacuum annealing;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Growth kinetics and stoichiometry of ZnS films obtained by close-spaced vacuum sublimation technique

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; ZnS films; Rutherford backscattering spectrometry; Deposition rate; Stoichiometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Trace element quantification in high-resolution Rutherford backscattering spectrometry

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Rutherford backscattering spectrometry; RBS; High resolution; Trace element; Ion beam; Quantitative composition analysis;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Stoichiometry evolution of polyethylene terephtalate under 3.7 MeV He+ irradiation

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Polymers irradiation; Mass loss; Polyethylene terephthalate; Elastic recoil detection; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Sputtering and surface state evolution of Bi under oblique incidence of 120 keV Ar+ ions

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Sputtering yields; Rutherford backscattering spectrometry; Atomic force microscopy; X-ray diffraction spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Photoluminescence optimization of Er-doped SiO2 films synthesized by radiofrequency magnetron sputtering with energetic treatments during and after deposition

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Erbium; Photoluminescence; Sputtering deposition; Silica; Rutherford backscattering spectrometry; Annealing;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Regional variation in the mechanical properties of cortical bone from the porcine femur

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Porcine cortical bone; Femur; Young's modulus; Toughness; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Ion-scattering analysis of self-assembled monolayers of silanes on organic semiconductors

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Rutherford Backscattering Spectrometry; Organic semiconductor thin film; Doping of organic semiconductors; Surface self-assembly; Radiation stability of organic films; Ion beam assisted decomposition of organic thin film;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Evolution of Zr/Hf/Zr trilayers during annealing studied by RBS

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Hafnium-zirconium; Oxidation of thin layers; Diffusion processes; Rutherford backscattering spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

High temperature annealing of Europium implanted AlN

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Aluminium Nitride; Rare Earth; Implantation; Rutherford Backscattering Spectrometry; Photoluminescence;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Study of annealing induced redistribution of implanted Au in Si: Fluence dependence

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Ion implantation; Au; Si; Rutherford backscattering spectrometry; Diffusion;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Sputtering and crystalline structure modification of bismuth thin films deposited onto silicon substrates under the impact of 20–160 keV Ar+ ions

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Sputtering yields; Stopping cross section; Rutherford backscattering spectrometry; Scanning electron microscopy; X-ray diffraction spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Effects of electronic and nuclear interactions in SiC

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 61.82.RxIrradiation; SiC; Nanostructure; Single crystalline; Grazing incidence X-ray diffraction; Rutherford Backscattering Spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Combined MEIS/TEM study of structural defects in Si implanted with a high dose of 100 keV Si ions

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Defects; Silicon; Ion implantation; Rutherford backscattering spectrometry; Transmission electron microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Studies on interdiffusion in Pd/Mg/Si films: Towards improved cyclic stability in hydrogen storage

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Palladium; Magnesium; Hydrogen storage; Interdiffusion; Rutherford backscattering spectrometry; Nuclear resonance reaction analysis;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Comparative depth-profiling analysis of nanometer-metal multilayers by ion-probing techniques

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Depth profiling; Elemental analysis; GDOES; Glow-discharge optical emission spectroscopy; Ion probing; Multilayer; RBS; Rutherford backscattering spectrometry; Secondary ion mass spectroscopy; SIMS

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Comparative ellipsometric and ion beam analytical studies on ion beam crystallized silicon implanted with Zn and Pb ions

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Ion implantation; Silicon; Ion beam induced epitaxial crystallization; Ellipsometry; Rutherford Backscattering Spectrometry; Channeling; Optical properties;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Characterization of sputtered and annealed niobium oxide films using spectroscopic ellipsometry, Rutherford backscattering spectrometry and X-ray diffraction

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Niobium oxide; Radio frequency sputtering; Ellipsometry; X-ray diffraction; Rutherford backscattering spectrometry; Optical properties

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Investigation of HfNx-based films by Rutherford backscattering spectrometry and X-ray reflectometry

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 62.20.Dc; 82.80.Yc; 61.10.Kw; HfNx-based films; Rutherford backscattering spectrometry; X-ray reflectometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Structural and magnetic properties of Tb implanted ZnO single crystals

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 71.55.Gs; 75.50.Pp; 61.72.VvZnO; Ion implantation; Rare earth; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Compositional analysis of atom beam co-sputtered metal–silica nanocomposites by Rutherford backscattering spectrometry

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 62.23.Pq; 67.30.hr; 68.35.Dv; 81.15.Cd; 82.80.YcAtom beam co-sputtering; Nanocomposites; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Th diffusion in monazite

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Monazite; Thorium; Diffusion; Rutherford Backscattering Spectrometry; Geochronology

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Lattice diffusion and solubility of argon in forsterite, enstatite, quartz and corundum

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Argon; Diffusion; Solubility; Partition coefficient; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 22 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Structural and optical characterisation of Eu implanted AlxGa1−xN

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 78.55.−m; 61.72.Vv; 82.80.Yc; 85.40Aluminum gallium nitride; Rare earth; Implantation; Rutherford backscattering spectrometry; Photoluminescence

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Linear and nonlinear optical absorption in copper nanocluster-glass composites

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Ion implantation; Fused silica; Metal nanoclusters; Surface plasmon resonance; Nonlinear optical response; UV–Vis spectroscopy; Rutherford backscattering spectrometry; Z-scan measurements

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Optical and mechanical properties of alumina films fabricated on Kapton polymer by plasma immersion ion implantation and deposition using different biases

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 52.77.Dq; 61.82.Pv; Plasma immersion ion implantation and deposition; Alumina films; Rutherford backscattering spectrometry; Optical properties; Crack resistance;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Silicidation in Pd/Si thin film junction—Defect evolution and silicon surface segregation

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Palladium silicides; X-ray diffraction; Auger electron spectroscopy; Positron annihilation spectroscopy; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Investigations on the oxidation of zirconium nitride films in air by nuclear reaction analysis and backscattering spectrometry

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Rutherford backscattering spectrometry; Nuclear resonance reaction analysis; Oxidation; ZrN;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Zr and Hf diffusion in rutile

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; zirconium; hafnium; rutile; diffusion; Rutherford Backscattering spectrometry; geothermometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 13 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Role of the SiO2 buffer layer thickness in the formation of Si/SiO2/nc-Ge/SiO2 structures by dry oxidation

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 68.65.Jk; 82.80.Yc; 78.30.Am; SiGe polycrystalline layers; Oxidation processes; Rutherford backscattering spectrometry; FTIR spectroscopy; Raman spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Characterization of subsurface hydrogen in diamond films by high-resolution elastic recoil detection analysis

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 61.72.Dd; 68.55.Ln; 72.80.CwDiamond films; Hydrogen; Elastic recoil detection analysis; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Nanoscale BixTe3/Sb2Te3 multilayer thin film materials for reduced thermal conductivity

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 81.07.−bMultilayer; High-energy Si ion implantation; Antimony telluride; Bismuth telluride; Rutherford backscattering spectrometry; 3ω Method thermal conductivity measurement; Seebeck coefficient; Thermal conductivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Thorium and cerium chemical behaviour in ion-irradiated alkali-borosilicate glasses

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 61.16.Ch; 61.80.Jh; 81.05.Je; 81.65.b; 81.70.Jb; 82.80.YcAqueous leaching; Elastic recoil detection analysis; Irradiation; Nuclear glasses; Rutherford backscattering spectrometry; Solubility

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Characterization and corrosion stability of SiC coatings using ion beam analysis techniques

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 82.80.Yc; 87.64.Ee; 81.15.Cd; 81.65.KnSilicon carbide; Coatings; Ion beam assisted deposition; Dynamic ion mixing; Ion beam analysis; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Non-linear damage accumulation in Au-irradiated SrTiO3

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 61.72.Ji; 61.82.−d; 82.80.Yc; 64.60.CnStrontium titanate; Irradiation effects; Defects; Damage accumulation; Amorphization; Rutherford backscattering spectrometry; Ion channel

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

The improvement of thermal stability of nickel silicide by adding a thin Zr interlayer

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Ni(Zr)Si; X-ray diffraction; Raman spectral analysis; Rutherford backscattering spectrometry; Schottky barrier diode

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Electrochemical deposition of copper and ruthenium on titanium

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Ruthenium seed layer; Copper; Electrochemical deposition; Rutherford backscattering spectrometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Physico-chemical characterization of NF/RO membrane active layers by Rutherford backscattering spectrometry

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Nanofiltration; Reverse osmosis; Rutherford backscattering spectrometry; RBS; Membrane active layer thickness; Roughness; Membrane elemental composition

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Applications of high energy ion beam techniques in environmental science: Investigation associated with glass and ceramic waste forms

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Rutherford backscattering spectrometry; Nuclear reaction analysis; Ion channeling; Ion exchange; Glass and ceramic waste forms; Ion beam analysis; Environmental science; Radiation damage; Thermal recovery;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 13 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Status of ion beam data analysis and simulation software

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 01.30.R; 07.05.K; 82.80.YcComputer software; Data analysis; Simulation; Ion beam analysis; Rutherford backscattering spectrometry; Elastic recoil detection

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 21 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

RBS analysis of Sm-Ni alloy films prepared by molten salt electrochemical process

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; Electrochemical reaction; Intermetallics; Rutherford backscattering spectrometry; Sm-Ni alloy; Molten salt;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Ion beam analysis of the dry thermal oxidation of thin polycrystalline SiGe films

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 68.65.Jk; 82.80.Yc; 78.30.Am; SiGe polycrystalline layers; Oxidation processes; Rutherford backscattering spectrometry; FTIR spectrometry; Raman spectrometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Charging effect during ion beam analysis: Comparison between aluminium and glass substrates

Keywords: اسپکترومتری بکار بردن رادرفورد; 25.55.Kr; 82.80.Yc; 61.82.Ms; 81.15.Ef; Rutherford backscattering spectrometry; Charging effect; Charge exchange; Au; Al; Glass; Vacuum deposition;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه