میکروسکوپ تونلی اسکن کردن

در این صفحه تعداد 351 مقاله تخصصی درباره میکروسکوپ تونلی اسکن کردن که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI میکروسکوپ تونلی اسکن کردن (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ تونلی اسکن کردن; AFM; atomic force microscopy; API; active pharmaceutical ingredient; CA; contact angle; CAB; adhesive-cohesive balance; COPD; chronic obstructive pulmonary disease; DMT; Derjaguin-Muller-Toporov; DPI; dry powder inhaler; FPF; fine particle fraction;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ تونلی اسکن کردن; Scanning probe microscopy; Scanning tunnelling microscopy; Atomic force microscopy; Functionalized STM/AFM tips; Single molecule manipulation; PTCDA;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ تونلی اسکن کردن; TiO2(110) surface; Stable contrast mode; Atomic force microscopy (AFM); AFM; atomic force microscopy; KPFM; Kelvin probe force microscopy; LCPD; local contact potential difference; LDOS; local density of states; STM; scanning tunnelling microscopy; STS; s
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ تونلی اسکن کردن; Manufactured nanomaterials; Physico-chemical properties; Characterisation; OECD test guidelines; Working party on manufactured nanomaterials; 2D; two dimensional; 3D; three dimensional; AES; Auger electron spectroscopy; AFM; Atomic force microscopy; ATOF-
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ تونلی اسکن کردن; 2DEG; two-dimensional electron gas; 3DEG; three-dimensional electron gas; AERPY; angle- and energy-resolved photo-yield; AES; Auger electron spectroscopy; ARPES; angle-resolved photoemission spectroscopy; ASP; acoustic surface plasmon; BP; bulk plasmon; C
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ تونلی اسکن کردن; Semiconductor-semiconductor interfaces; Diffusion and migration; Silicon; Germanium; High index single crystal surfaces; Surface structure, morphology, roughness, and topography; Scanning tunnelling microscopy; Photoelectronspectroscopy;