الکترون ثانویه

در این صفحه تعداد 57 مقاله تخصصی درباره الکترون ثانویه که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI الکترون ثانویه (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; AE; Acoustic emission; AHP; Analytic hierarchy process; CCD; Charge coupled device; CIGS; Copper-indium-gallium-selenide; DLIT; Dark lock-in thermography; EBIC; Electron beam induced current; EBSD; Electron backscatter diffraction; EDX; Energy-dispersive
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; DET; Diffracted electron tracking; 3D; Three-dimensional; AFM; Atomic force microscope; DXT; Diffracted X-ray tracking; EC; Environmental cell; SEM; Scanning electron microscope; EBSD; Electron backscatter diffraction; EBSP; Electron backscatter diffracti
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; EPS; extracellular polymeric substance; PBR; photobioreactor; LED; light emitting diode; BSE; backscatter electron; SE; secondary electron; FAME; fatty acid methyl ester; GC; gas chromotography; Biofuels; Algae; Biofilms; Lipids; Nutrients;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; EM; electron microscopy; TEM; transmission electron microscopy; SEM; scanning electron microscopy; CCD; charge-coupled device; SE; secondary electron; BSE; backscattered electrons; TSEM; transmission scanning electron microscopy; STEM; scanning transmissi
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; LV-STEM; low-voltage scanning transmission electron microscopy; DF; dark field; SE; secondary electron; GR; graphene; C3; amorphous carbon film with a thickness of 3 nm; C20; amorphous carbon film with a thickness of 20 nm; PMT; photomultiplier tube; SN
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; AL; aromatic lamellae; BPyC; buffer pyrolytic carbon; BSU; basic structural unit; CVD; chemical vapor deposition; FBR; fluidized bed reactor; FWHM; full width half maxima; HTR; high temperature (nuclear) reactor; IPyC; inner pyrolytic carbon; OPyC; outer
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; DAPI; 4′,6-diamidino-2-phenylindole; DM; dry mass; FS; freeze substitution; HPF; high-pressure freezing; LSCM; laser scanning confocal microscope; MRP; mass resolving power; NMT; non-invasive micro-test technology; PPFD; photosynthetic photon flux densi
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; ABPT; aminobiphenylthiol; AFM; atomic force microscope; AMBPT; (4′-azomethylmalonodinitrile)-1,1′-biphenyl-4-thiol; B1BPT; bis-1,1-biphenylthiol; B4BPT; bis-4,4-biphenylthiol; BBDS; bisbiphenyl-disulfanyl; BBPDT; bisbiphenylene-dithiol; BE; binding en
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; EB; electron beam; ISEC; indirect secondary electron contrast; MC; Monte Carlo; PD; photodiode; SEM; scanning electron microscopy; SE; secondary electron; SGXM; scanning-electron generation X-ray microscopy; Si3N4; silicon nitride; TE; transmitted electro
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: الکترون ثانویه; FE, field emission; ISEC, indirect secondary electron contrast; MC, Monte Carlo; SEM, scanning electron microscopy; SE, secondary electron; TE, thermionic emission; 3D, three-dimensionalScanning electron microscopy; Secondary electron; Bacteriophage T4; V