| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 1664531 | 1518013 | 2015 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												A comparative transmission electron microscopy, energy dispersive x-ray spectroscopy and spatially resolved micropillar compression study of the yttria partially stabilised zirconia - porcelain interface in dental prosthesis
												
											ترجمه فارسی عنوان
													میکروسکوپ الکترونی انتقال، طیف سنجی اشعه ایکس پراکنده انرژی و مطالعات فشرده سازی میکروپلین فضایی حل و فصل از یتیتا اینترکسی زیرکونیا - چینی در پروتز دندان 
													
												دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												کلمات کلیدی
												EDSBSEFIBYPSZYttria Partially Stabilised ZirconiaEnergy Dispersive X-ray Spectroscopy - اشعه ماوراء بنفش اشعه ایکسSecondary electron - الکترون ثانویهTem - این استFocused ion beam - باریکه یونی متمرکز یا بیمSEM - مدل معادلات ساختاری / میکروسکوپ الکترونی روبشیScanning electron microscopy - میکروسکوپ الکترونی روبشیTransmission electron microscopy - میکروسکوپ الکترونی عبوری
												موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													مهندسی مواد
													فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
												
											ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 596, 1 December 2015, Pages 222-232
											Journal: Thin Solid Films - Volume 596, 1 December 2015, Pages 222-232
نویسندگان
												Alexander J.G. Lunt, Gaurav Mohanty, Siqi Ying, JiÅà DluhoÅ¡, Tan Sui, Tee K. Neo, Johann Michler, Alexander M. Korsunsky, 
											