کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1664531 | 1518013 | 2015 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A comparative transmission electron microscopy, energy dispersive x-ray spectroscopy and spatially resolved micropillar compression study of the yttria partially stabilised zirconia - porcelain interface in dental prosthesis
ترجمه فارسی عنوان
میکروسکوپ الکترونی انتقال، طیف سنجی اشعه ایکس پراکنده انرژی و مطالعات فشرده سازی میکروپلین فضایی حل و فصل از یتیتا اینترکسی زیرکونیا - چینی در پروتز دندان
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
EDSBSEFIBYPSZYttria Partially Stabilised ZirconiaEnergy Dispersive X-ray Spectroscopy - اشعه ماوراء بنفش اشعه ایکسSecondary electron - الکترون ثانویهTem - این استFocused ion beam - باریکه یونی متمرکز یا بیمSEM - مدل معادلات ساختاری / میکروسکوپ الکترونی روبشیScanning electron microscopy - میکروسکوپ الکترونی روبشیTransmission electron microscopy - میکروسکوپ الکترونی عبوری
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 596, 1 December 2015, Pages 222-232
Journal: Thin Solid Films - Volume 596, 1 December 2015, Pages 222-232
نویسندگان
Alexander J.G. Lunt, Gaurav Mohanty, Siqi Ying, JiÅà DluhoÅ¡, Tan Sui, Tee K. Neo, Johann Michler, Alexander M. Korsunsky,