کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10620260 | 988604 | 2013 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
An apparatus for performing microtensile tests at elevated temperatures inside a scanning electron microscope
ترجمه فارسی عنوان
یک دستگاه برای انجام آزمون میکروپلاستی در دمای بالا در داخل میکروسکوپ الکترونی اسکن
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
تست کشش در محل، تغییر شکل در دمای بالا، فیلم نازک، مرز دانه کشویی، خزش
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
چکیده انگلیسی
In this paper, we introduce an apparatus to perform microtensile tests at elevated temperatures inside a scanning electron microscope. The apparatus has a stroke of 250 μm with a displacement resolution of 10 nm and a load resolution of 9.7 μN. Measurements at elevated temperatures are performed through use of two silicon-based micromachined heaters that support the sample. Each heater consists of a tungsten heating element that also serves as a temperature gauge. To demonstrate the testing capabilities, tensile tests were performed on submicron Cu films at various temperatures up to 430 °C. Stress-strain curves show a significant decrease in yield strength and initial slope for the samples tested at elevated temperature, which we attribute to diffusion-facilitated grain boundary sliding and dislocation climb.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 61, Issue 19, November 2013, Pages 7500-7510
Journal: Acta Materialia - Volume 61, Issue 19, November 2013, Pages 7500-7510
نویسندگان
Gi-Dong Sim, Jun-Hyub Park, Michael D. Uchic, Paul A. Shade, Soon-Bok Lee, Joost J. Vlassak,