کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10669838 | 1008842 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Growth and characterization of La1 â xAxMnO3 (A = Ag and K, x = 0.33) epitaxial and polycrystalline manganite thin films derived by sol-gel dip-coating technique
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Growth and characterization of La1 â xAxMnO3 (A = Ag and K, x = 0.33) epitaxial and polycrystalline manganite thin films derived by sol-gel dip-coating technique Growth and characterization of La1 â xAxMnO3 (A = Ag and K, x = 0.33) epitaxial and polycrystalline manganite thin films derived by sol-gel dip-coating technique](/preview/png/10669838.png)
چکیده انگلیسی
⺠Sol-gel derived epitaxial and polycrystalline La0.67Ag0.33MnO3 and La0.67K0.33MnO3 films. ⺠The polycrystalline thin films show a spin-glass behavior at low temperatures. ⺠Abrupt rise of magnetization of polycrystalline films at around 50 K. ⺠Polycrystalline films have higher magnetoresistance than epitaxial films.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 19, 31 July 2012, Pages 6138-6144
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 19, 31 July 2012, Pages 6138-6144
نویسندگان
A. Goktas, I.H. Mutlu, A. Kawashi,